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絕緣材料測試儀器

高阻計擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗儀低壓/漏電起痕試驗儀導電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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HC2661型手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：

瀏覽量：1547

HC2661型手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據的統(tǒng)計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測儀器

更新時間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：1508

HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測儀器是一種測試速度快、精度高、測試范圍寬的通用阻抗測量儀器。四個測試頻率點，Z高至10kHz, 30Ω 、100Ω兩種不同信號源輸出阻抗可使儀器測量結果與眾多LCR結果相，同時也能適應陶瓷電容器對測量電平的要求。
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HC2826型LCR數(shù)子電橋檢測儀器

更新時間：2023-08-29

型號：

瀏覽量：1562

HC2826型LCR數(shù)子電橋檢測儀器： HC2826系列元件測試儀是*臺符合LXI標準的新一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
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HC2825A型高速數(shù)子電橋檢測儀器

更新時間：2023-08-29

型號：HC2825A型

瀏覽量：1579

HC2825A型高速數(shù)子電橋檢測儀器： HC2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數(shù)測試儀器。該產品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內阻選擇和測試功能,可滿足生產線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。
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HC多功能/LCR數(shù)字電橋檢測儀器

更新時間：2024-07-15

型號：HC

瀏覽量：1716

多功能/LCR數(shù)字電橋檢測儀器產品簡介具有多種功能和高測試頻率的LCR數(shù)字電橋，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率Z高1MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面
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HC華測廠家熱銷LCR數(shù)字電橋檢測儀器

更新時間：2024-07-15

型號：HC

瀏覽量：1566

華測廠家熱銷LCR數(shù)字電橋檢測儀器產品簡介具有多種功能和高測試頻率的LCR數(shù)字電橋，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率Z高1MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面
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HCLD-Ⅲ型華測高壓漏電起痕試驗裝置測試儀器

更新時間：2024-07-15

型號：HCLD-Ⅲ型

瀏覽量：1637

華測高壓漏電起痕試驗裝置測試儀器符合標準：高壓漏電起痕試驗機適用于對電工電子產品、家用電器及其材料進行耐電痕化和蝕損的試驗，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測量評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級。本機是嚴格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設計制造。
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HCLD-Ⅲ型華測實驗儀器-高壓漏電起痕試驗裝置

更新時間：2024-07-15

型號：HCLD-Ⅲ型

瀏覽量：1996

高壓漏電試驗儀采用控制系統(tǒng)，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術，使試驗過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗的高壓切斷，使數(shù)據采集精確，同時本設備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護裝置。
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